高溫老化試驗(yàn)箱的意義

隨著對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的要求不斷提升，目前很多行業(yè)領(lǐng)域都需要高溫老化試驗(yàn)箱對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)試驗(yàn)，特別是電子、半導(dǎo)體等一些高精密行業(yè)，那高溫老化試驗(yàn)箱的意義是什么？

現(xiàn)代電子技術(shù)的飛速發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來(lái)越高，結(jié)構(gòu)越來(lái)越細(xì)微化，工序越來(lái)越多化，制造工藝越來(lái)越復(fù)雜化，這樣在制造過(guò)程中難免會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括有兩類，第一類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求，這時(shí)，需要一款可以檢驗(yàn)并提升電子產(chǎn)品品質(zhì)可靠性的設(shè)備-高溫老化箱應(yīng)運(yùn)而生。

高溫老化試驗(yàn)箱的產(chǎn)生能檢驗(yàn)產(chǎn)品潛在的缺陷。通過(guò)高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用，從而保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。

這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過(guò)程中逐漸地被發(fā)現(xiàn)，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然，對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)–正好是高溫老化試驗(yàn)箱所具備的功能，來(lái)加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。

高溫老化試驗(yàn)箱是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，通過(guò)測(cè)試程序可檢查出不良品或不良件，幫助客戶迅速找出問(wèn)題、并為解決問(wèn)題提供有效的方向，充分提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)，是各行業(yè)廠家提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備！